Le piattaforme LUPHOScan HD sono sistemi metrologici interferometrici di scansione basati sulla tecnologia MWLI® (interferometria a lunghezza d'onda multipla).
Sono progettati per eseguire misurazioni 3D senza contatto e ultraprecise delle forme, principalmente di superfici simmetriche di rotazione come forma di afsere, sfere, piani e forme libere.
Fra i vantaggi principali dei sistemi citiamo velocità di misurazione elevate, alta flessibilità in relazione a forme di superficie non comuni (es., apici piani o profili con punti di flessione) e diametri massimi degli oggetti fino a 420 mm.
Funzioni di misurazione senza precedenti
- Massima precisione oggetti con pendenza fino a 90° - Ideale per misurare asfere resistenti, ripide e piccole, compresi gli stampi per gli obiettivi dei telefoni cellulari
- Idoneo a quasi tutti i materiali - Trasparente, speculare, opaco, lucido o smerigliato
- Riproducibilità ottimale dei risultati di misurazione - Migliore stabilità da una misurazione all'altra nella determinazione di potenza e PV
- Rumore di sistema estremamente basso - Resistente alle variazioni ambientali
- Misurazioni rapide - Diametri fino a 420 mm
Questa nuova generazione di dispositivi garantisce per la prima volta una precisione di misurazione assoluta superiore a ±50 nm (3σ) con oggetti con inclinazione massima di 90°. A tutto ciò si aggiunge un'elevata riproducibilità dei risultati di misurazione e un basso rumore di fondo.
Il profilometro/strumento 3D senza contatto è ideale per le applicazioni in cui la massima precisione è un requisito essenziale per il processo di produzione. Questa soluzione presenta il maggior numero di vantaggi per le superfici con pendenze ripide e direzioni del passo variabili e le piccole superfici, come gli stampi degli obiettivi degli smartphone.Grazie a una riduzione significativa del rumore e una migliore riproducibilità, Taylor Hobson risponde alle esigenze in rapido progresso dei progettisti e dei produttori di lenti.
LUPHOSwap - Caratterizzazione completa degli errori delle forme delle parti ottiche
LUPHOSwap è un'estensione disponibile per le piattaforme LUPHOScan HD che permette la caratterizzazione completa di entrambe le superfici di una lente. Le due superfici sono misurate in successione. Un concetto di misurazione esclusivo permette la correlazione assoluta dei risultati misurati su entrambi i lati.Ciò implica che quando si misurano gli errori della forma, lo strumento determina lo spessore esatto della lente, gli errori di cuneo e di decentramento delle due superfici e il relativo orientamento rotazionale.Inoltre, è possibile valutare il posizionamento del supporto della lente.
Questo strumento avanzato sfrutta la funzionalità di misurazione assoluta della tecnologia dei sensori LUPHOSmart, un concetto di supporto esclusivo e un sensore di riferimento aggiuntivo (oscillazione).